产品中心
实验室双脉冲测试设备
量产动静态测试设备
动态偏压可靠性测试设备
SiC晶圆老化测试设备
技术支持
技术分享
用例分享
服务支持
操作及教学视频
关于设备事业部
了解我们
加入我们
最新动态
联系我们
联系我们
产品中心
实验室双脉冲测试设备
量产动静态测试设备
动态偏压可靠性测试设备
SiC晶圆老化测试设备
SiC器件实验室动态特性测试设备 ME400D
分立器件动态特性测试设备 ME400D-SE
SiC器件量产动态参数测试设备 ME100D-AM
SiC器件量产静态参数测试设备 ME100S-AM
IGBT/SiC模块/衬板量产端动静态一体ATE测试设备 ME100DS-PIM
SiC器件动态偏压可靠性设备 ME100DHTXB
SiC 晶圆老化测试设备 ME100WLR
技术支持
技术分享
用例分享
服务支持
操作及教学视频
关于设备事业部
了解我们
加入我们
最新动态
联系我们
联系我们
CN
EN
文章分类
全部
实验室双脉冲测试设备
动态偏压可靠性测试设备
量产动静态测试设备
晶圆老化测试设备
其他
22
2024.11
浅谈SiC DHTRB动态偏压可靠性试验
概述碳化硅(SiC)器件由于其优异的物理和电学性能,在高温、高频和高功率应用中展现出巨大的潜力。然而,在实际运行过程中,这些器件会受到各种可靠性问题的影响,其中动态偏压可靠性是一个关键因素。1. 动态偏压可靠性测试的基本概念动态偏压可靠...
«
1
»