SiC器件动态偏压可靠性设备 ME100DHTXB

产品描述

ME100DHTXB是一款针对SiC器件动态偏压可靠性测试的设备,该设备可以帮助SiC器件厂家进行DHTGB,DHTRB可靠性摸底测试及可靠性验证;同时帮助第三方检测中心按照AQG324等标准进行可靠性认证测试。

产品亮点

1、快速开通关断技术

  • 高dV/dt与低过冲的完美匹配;
  • DGS:dVGS/dt > 1V/ns,无过冲;
  • DRB:dVDS/dt > 50V/ns,过冲<15%。

2、dV/dt在线程控调节技术

  • “一键式”软件操作,即可程控调节设备驱动能力; 针对不同封装器件实现dV/dt波形的在线调节。

3、参数精准表征技术

  • 各工位具有定制化的测试电路;可实时精准监测VGS(th)、IGSS、IDSS等参数的变化。

4、积木式”测试组合搭配

  • 系统具备柜体,抽屉,治具自由组合模式,每个柜体均可选择DGS/DRB测试功能; 各个抽屉独立控制,不同工位独立驱动。
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