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突破传统测试瓶颈！三电平器件动态测试迎来全新解决方案

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飞仕得新智造基地全面启用

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新品速递 | SiC晶圆级老化测试设备ME100WLR

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喜讯 | 飞仕得“SiC 功率器件动态偏压可靠性测试设备”成功认定浙江省首台（套）装备！

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飞仕得科技获极光奖双料大奖，参编碳化硅产业白皮书，用技术创新赋能第三代半导体行业发展