• 产品中心
    • 实验室双脉冲测试设备
    • 量产动静态测试设备
    • 动态偏压可靠性测试设备
    • SiC晶圆老化测试设备
  • 技术支持
    • 技术分享
    • 用例分享
  • 服务支持
    • 操作及教学视频
  • 关于设备事业部
    • 了解我们
    • 加入我们
    • 最新动态
  • 联系我们
    • 联系我们
  • 产品中心
    实验室双脉冲测试设备 量产动静态测试设备 动态偏压可靠性测试设备 SiC晶圆老化测试设备
    SiC器件实验室动态特性测试设备 ME400D
    分立器件动态特性测试设备 ME400D-SE
    SiC器件量产动态参数测试设备 ME100D-AM
    SiC器件量产静态参数测试设备 ME100S-AM
    IGBT/SiC模块/衬板量产端动静态一体ATE测试设备 ME100DS-PIM
    SiC器件动态偏压可靠性设备 ME100DHTXB
    SiC 晶圆老化测试设备 ME100WLR
  • 技术支持
    • 技术分享
    • 用例分享
  • 服务支持
    • 操作及教学视频
  • 关于设备事业部
    • 了解我们
    • 加入我们
    • 最新动态
  • 联系我们
    • 联系我们
    • CN
文章分类
全部 应用端测试设备 可靠性测试设备 量产测试设备 其他
13 2024.12
浅谈功率半导体器件ATE测试治具
引言:在功率半导体器件(如 IGBT、SiC-MOSFET 等)的生产和质量控制过程中,自动测试设备(ATE)扮演着至关重要的角色。而测试治具作为自动测试设备与被测器件之间的连接桥梁,其性能优劣直接影响测试结果的准确性与可靠性。一套优良的测试治具能够保障...
  • «
  • 1
  • »
  • 产品中心
    • 实验室双脉冲测试设备
    • 量产动静态测试设备
    • 动态偏压可靠性测试设备
    • SiC晶圆老化测试设备
  • 技术支持
    • 技术分享
    • 用例分享
  • 服务支持
    • 操作及教学视频
  • 关于设备事业部
    • 了解我们
    • 加入我们
    • 最新动态
  • 联系我们
    • 联系我们
关注Firstack智能装备公众号
Firstack 时事通讯订阅
阅读隐私政策
COPYRIGHT © 2011 - 2024杭州飞仕得科技有限公司
友情链接:www.firstack.com