文章分类
全部 应用端测试设备 可靠性测试设备 量产测试设备 其他
22 2024.11
浅谈SiC DHTRB动态偏压可靠性试验
概述碳化硅（SiC）器件由于其优异的物理和电学性能，在高温、高频和高功率应用中展现出巨大的潜力。然而，在实际运行过程中，这些器件会受到各种可靠性问题的影响，其中动态偏压可靠性是一个关键因素。1. 动态偏压可靠性测试的基本概念动态偏压可靠...