飞仕得新一代SiC动态偏压可靠性测试设备ME200DXBATE专为DGS&DRB测试打造，可满足AQG324和JEP204标准的要求，能够实现从实验室研发到量产端测试的一站式覆盖，以三大核心技术，瞄准客户痛点需求，实现标准化测试。

1、高容量紧凑设计，支持手动及自动上下料

• 单机6抽屉，最大可同时老化24 HPD，72 DCM，160 TO
• 1600mm(W)× 1200mm(D)× 2000mm(H)，尺寸设计便于人工操作
• 支持自动化对接，帮助客户快速建立产线级测试能力

2、使用便捷，兼容性好

• 自研驱动ASIC，兼容不同封装、不同芯片、不同电压等级器件测试 
• dV/dt在线程控可调，无需停机，即可秒级匹配不同测试工况
• 功能区块设计，平均5分钟内可完成工装更换

3、高性能，高稳定性，高可扩展性

• 全桥模块dV/dt最大可超80V/ns
• 器件双列放置，探针接触稳定
• 散热方式风冷/液冷可选，最高频率可达：30 kHz（风冷），100 kHz（液冷），提升UPH